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HOME TECHNOLOGY & ENGINEERING / Mechanical
Istfaâ„¢ 2010 - Conference Proceedings From The 36Th International Symposium For Testing And Failure Analysis November 14-18 2010 Intercontinental Hotel Dallas Dallas Texas Usa
Author ASM International ASM International | Electronic Device Failure Analysis Society Electronic Device Failure Analysis Society
Publisher ASM International ASM International
ISBN 978-1-61503-041-5 | 978-1-61503-727-8 | 978-1-68015-510-5
전문보기 FULL TEXT ACCESS
Title EBSCO eBooks
Coverage 2010-01-01 - 2010-12-31 (2010)
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